产品型号: ESD-CDM
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ESD-CDM半导体静电放电发生器是针对带电器件放电模型(CDM)的特点和要求专门设计,可以对LED芯片、晶体管、IC等半导体器件进行静电抗扰度的测试。按照如下相应标准的要求进行设计和制造,同时完全满足如下标准中最严酷等级的静电电压要求。
放电模型 | 国际标准 | 中国标准 |
带电器件放电CDM | ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 “Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing-Charged-Device Model (CDM)-Component Level” | GB/T 4937.28-2024 《半导体器件 机械和气候试验方法 第 28 部分:静电放电敏感度试验 充电器件模型》(等同采用 IEC 60749-28:2022) |
IEC 60749-28:2022 “Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing-Charged-device model (CDM)” | ||
AEC-Q100-011 “Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test” | ||
EIA/JESD22-C101 “Test Method for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing-Charged-Device Model (CDM)” | ||
ANSI/ESD S5.3.1-2009 “Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Charged Device Model (CDM) – Component Level” | ||
JEITA ED-4701/300 Test Method 305 “Charged Device Model Electrostatic Discharge (CDM/ESD)” |
该系统主要由直流高压源、测试主机、静电测试探针(含衰减器)三部分构成,可实现带电器件模型(CDM)静电感应带电、静电放电及放电信号采集测试功能。注意:ESD-CDM可与ESD-883D半导体静电放电发生器(HBM/MM)共用一台主机,同时测试HBM、MM和CDM(LISUN型号:ESD-883D/ESD-CDM)
系统组成:
• 直流高压源部分
a. 电压输出范围:±(10V~5kV);
b. 电压输出最大允许误差:±(3%×读数值+10V);
• 测试主机部分
a. 对高压感应板进行绝缘隔离,防止高压漏电;
b. “高压感应板+隔离板”整体可三向位移调节,调节范围0~10cm,调节精度0.1mm(手动调节);
c.感应板尺寸:12cm*12cm*2mm ;
d.隔离板尺寸:12cm*12cm*0.4mm,材料:FR4
• 静电测试探针部分
a. 静电放电电流脉冲峰值最大测量能力≥20A;
b. 探针尺寸:Φ1.5*10mm,伸缩长度:≈3mm;
c. 测试探针可垂直移动(程控+手控),速度可调,移动速度0.1cm/s~5cm/s
d. 测试探针部分配备衰减器,留有数据采集口/线可直连示波器
e. 接地板尺寸:63.5 mm*63.5 mm*6.35 mm
结构示意图
原理参考图(ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014)
原理图
等效电路图
测试探针实物参考图
底座实物图
底座三维调节示意图(参考)
使用方法:
1. 受测器件放置在绝缘板上,夹具固定,管脚朝上;
2. 手动调节底座三维旋钮,使受测管脚在中心;
3. 手动控制测试探针至位移最大处,确认恰好与管脚接触后,恢复位置;
4. 设置探针移动速度至合适值;
4. 启动高压源至XX电压,使受测器件处于静电感应带电状态;
5. 使探针自动快速下移,与管脚接触完成CDM放电过程,同时放电波形数据经由同轴线缆传输至示波器进行现实与存储。
试验操作过程示意图示意图