GTEM 室射频电磁场辐射抗扰度 (EMS) 和发射限值 (EMI) 测试

GTEM（Gigaherz Tanseverse ElectroMagnetic）试验箱是在TEM小室的基础上开发的新型电磁兼容测试设备（采用非对称矩形结构模拟自由空间，在小室内产生TEM电磁波）。 利用GTEM横向电磁波透射室进行EMC性能测试是近年来EMC领域新发展的测量技术。

由于GTEM（从直流到微波）的高宽带性能，可用于射频电磁场辐射抗扰度（EMS）测试，也可用于射频电磁场辐射发射限值（EMI）测试。 与各种试验室、屏蔽室、电波暗室和露天试验场相比，GTEM试验室结构简单、成本低廉、易于快速、自动控制测试，受到了许多著名第三实验室的高度评价和认可。

技术参数：

GTEM小室结构图

吉赫芝横电磁中心处的电场强度为：

E：电磁场强度的垂直分量
Po： 馈至赫芝横电磁波室的射频功率
Rc： 吉赫芝横电磁波室的特性阻抗
d：  芯板与上下板之间的垂直距离
从式中可见较小赫芝横电磁波室的芯板与上、下底板间的尺寸，可获得较大的场强值。

典型应用：
1. 用于射频电磁场辐射抗扰度 (EMS) 测试的 GTEM小室
GTEM-EMS完全满足IEC61000-4-3、IEC61000-4-20、GB/T17626.3和GB/T17215标准。 GTEM已广泛应用于电力、通信、军工、质检等领域，为评估小型电子设备对辐射电磁场干扰的敏感性建立了强大的测试基础。

GTEM射频电磁场辐射抗扰度 (EMS) 测试系统配置

2. GTEM室用于射频电磁场辐射发射限值（EMI）测试
GTEM-EMI完全满足IEC61000-4-20、CISPR11、CISPR14、CISPR20、CISPR22和CISPR25，通过模拟自由空间和开放场的测试条件，采用数学建模和三维数据采集和计算方法，提供了 为广大企业用户对小型电子电气产品进行电磁兼容EMI测试提供经济、方便、可行的解决方案

GTEM射频电磁场辐射发射限值 (EMI) 测试系统配置