半导体器件在研发、封装制造、运输装配全流程中，静电是引发芯片隐性失效的重要诱因。人体触碰、自动化设备接触、物料摩擦都会产生静电脉冲，即便肉眼无法观察放电现象，也有可能造成芯片栅极氧化层、PN结的不可逆损伤。这类损伤往往不会立刻造成器件完全失效，会形成潜在缺陷，在后期装...
摘要 在半导体产业高速发展的背景下，静电放电对半导体器件的损害问题日益凸显。人体放电模型（HBM）和机器放电模型（MM）是半导体器件在生产、运输及使用过程中面临的主要静电威胁来源。本文聚焦力汕ESD-883D HBM/MM半导体静电放电发生器，详细阐述其设计原理、符合的国际与国内标准、设备特点...
摘要 静电放电（ESD）对半导体器件（如集成电路、LED 芯片和晶体管）的可靠性和性能构成重大威胁。为确保这些器件能够承受静电放电事件，使用人体模型（HBM）和机器模型（MM）静电放电模拟器进行标准化测试至关重要。本文聚焦于上海力汕 ESD-883D—— 一款专为集成电路测试设计的人体模型（HBM）...
引言 随着电子技术和制造业的快速发展，静电问题对生产过程的影响变得越来越显著。特别是在半导体制造、电子产品组装等高精度要求的行业中，静电不仅影响产品质量，还可能导致设备损坏和安全事故。上海力汕静电放电发生器作为一种专业的测试工具，在提升产品成品率、保障生产安全方面发挥...
摘要： 静电放电（ESD）是半导体器件和集成电路（IC）失效的主要原因之一。在半导体行业中，进行ESD测试对确保组件的耐用性和可靠性至关重要。本文探讨了人身模型（HBM）和机器模型（MM）ESD模拟器的重要性，重点介绍了专为IC测试设计的LISUN ESD-883D HBM/MM ESD模拟器。我们将详细分析这些模拟器在ESD...
摘要 静电放电（ESD）是半导体设备制造和测试中的一个重要问题，因为它可能对集成电路（IC）造成重大损害。在各种ESD测试模型中，人机模型（HBM）是模拟人体接触敏感设备静电放电的最常用方法。本文深入探讨了ESD HBM模型及其在半导体行业中的应用，重点介绍LISUN ESD-883D HBM/MM ESD模拟器如何在集成...
1、应用领域的差异 ESD61000-2静电放电发生器完全符合IEC/EN 61000-4-2、GB/T 17626.2标准，属于电磁兼容范畴，测试对象是一台可以独立工作的设备例如LED灯具等，而且设备处于正常工作状态下。 ESD61000-2_静电放电发生器 ESD-883D半导体静电放电发生器完全符合GJB548A-96方法3015、国家军用标准GJB128A-97方法1020、MIL-S...
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