杂光系数测量原理

这里仅介绍“黑斑法”（或称“面源法”、“扩展源法”）的测量原理。实际光学系统成像光线的有效扩散范围是有限的，若将“点光源”扩展为均匀的“面光源”时，像面上杂光的光通量分布可以认为是比较均匀的。于是，按杂光系数的定义：www.LisunGroup.com.cn
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式中EG为杂光在像面上形成的照度；E0为成像光束在像面上形成的照度；S为像面的总面积；A为面光源在像面上所成像的面积。

面光源的面积A越大，则像面上造成的杂光照度EG就越大，越容易测量准确，如果A趋近S，则上式可写成：

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由上式可见，只要测量大面积（对被测系统入瞳中心的视场角接近180度）均匀发光光源在像面上的像的总照度EG+E0和杂光照度EG后，代入上式即可求出杂光系数η。

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