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半导体静电放电发生器

操作使用说明书

适用于如下LISUN型号: ESD-CDM

1、设备基础认知

1.1 产品概述

ESD-CDM 带电器件模式(CDM,Charged Device Model)半导体静电放电发生器,是专为半导体器件在生产、运输及装配环节中 “带电器件接触放电” 场景设计的高精度抗扰度测试设备。其核心功能是模拟半导体器件自身带电后(如摩擦起电、感应带电)与接地物体接触时产生的瞬时放电过程,通过精准控制放电电压、电流波形等参数,评估器件对这类 “隐性静电冲击” 的耐受极限,提前排查芯片内部电路烧毁、功能失效等风险,为半导体器件的可靠性设计、量产质检及国际合规认证提供测试依据。

该系统采用 “电荷注入 – 接触放电” 一体化结构,配备高精度电荷测量模块,放电电压误差≤±3%;适配 DIP、SOP、QFP、BGA 等主流半导体封装夹具,搭载中英文触控屏,支持测试参数一键配置、放电过程自动化控制及测试数据实时存储,满足半导体行业高精度、高兼容性的测试需求。

1.2 适用标准

本设备完全符合以下国内外 CDM 静电放电测试标准:

标准号 标准名称
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing-Charged-Device Model (CDM)-Component Level
IEC 60749-28:2022 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing-Charged-device model (CDM)
AEC-Q100-011 Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test
EIA/JESD22-C101 Test Method for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing-Charged-Device Model (CDM)
ANSI/ESDS5.3.1-2009 Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Charged Device Model (CDM) – Component Level
JEITA ED-4701/300 Test Method 305 Charged Device Model Electrostatic Discharge (CDM/ESD)
GB/T 4937.28-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第 28部分:静电放电敏感性试验 充电器件模型(等同采用 IEC 60749-28:2022)

1.3 CDM放电模型原理

带电器件模型(CDM)模拟半导体器件自身积累静电电荷后,通过管脚与接地导体接触放电的物理过程。器件通过高压感应电场实现感应带电,当器件管脚接触接地探针时,储存的电荷在纳秒级时间内快速泄放,形成高峰值、快上升沿的放电电流脉冲,对器件内部栅氧化层、金属互连线造成冲击,以此考核器件的静电耐受能力。

2、安全使用注意事项

2.1 工作环境要求

工作环境温度:15℃~35℃;工作环境相对湿度:30%~60%,禁止在高湿、结露环境下使用,防止高压拉弧。

周围无强电磁干扰、无振动源、无易燃易爆物品、无腐蚀性气体。

放置于平稳工作台,避免倾斜、倒置,远离震动源。

设备与墙面、周边装置(如其他试验设备、货架)之间的距离至少 500mm,方便进行检修;设备正面处需预留至少1000mm的空间,确保操作顺畅,周围无阻碍物。

2.2 高压安全规范

2.2.1 安全检查

核实供电电源与设备匹配,确认电源接地良好,接地导线无破损、松动;

接地要求:主机保护接地端子(PGND)需用连接至大地,接地电阻≤4Ω,接地电缆需连接牢固,无松动、断裂。

2.2.2 操作过程安全要求

操作人员需经过专业培训,熟悉本说明书及相关标准要求,非专业人员禁止操作或拆卸设备。设备内部含高压电路,开盖可能导致触电风险,维修需联系厂家专业人员;

设备通电后,禁止触碰测试台、高压线缆、放电探针等相关配件,防止触电;

操作人员手部干燥,无佩戴金属饰品,操作时建议佩戴绝缘手套;

测试时禁止进食、饮水,防止电击引发意外;

多人操作时需明确分工,测试开始前需相互确认,避免误操作。

2.3 设备安全规范

插拔高压连接线前,必须关闭主机电源并等待至少 5 分钟,确保内部电容完全放电;

高压插头插入插座时应对准定位销,严禁未对准强行插入,避免损坏内部铜针;

发现高压线缆破损、接头松动时,立即停止使用并联系售后更换;

禁止在设备运行中突然切断电源或插拔高插头,以免损坏高压模块;

禁止用硬物刮擦触摸屏,禁止用尖锐物品按压屏幕;

测试过程中避免碰撞设备,防止被测器件移位导致测试失效或探针损坏。

2.4 其他

本说明书中未提到的,请谨慎操作或与我们联系。

3、设备介绍及接线

3.1 正面视角

见图3-1。

编号 说明
静电放电发生器
触摸屏
高压指示灯
高压线连接。将定位销抬起后,将放电塔的高压插头凹槽对准定位销缓慢插至底后,放下定位销以锁定高压插头
CDM静电放电塔
探针升降架,正对测试台的位置为探针安装处,见图3-2
标准测试台,位置、高低均可调
BNC接口,可使用同轴线连接至示波器查看输出波形。注:请确保示波器量程足够,或者增加衰减器以避免损坏示波器
半导体静电放电发生器-图1
图3-1
半导体静电放电发生器-图2
图3-2

3.2 背面视角

见图3-3。

编号 说明
静电放电发生器
电源线插孔(含保险丝),为设备连接至合适电源
电源开关
PGND保护接地端子,使用接地导线连接至大地
放电塔信号线连接
USB接口,可连接USB鼠标操控触摸屏,也可连接U盘以升级程序
LAN网口,备用
CDM静电放电塔
接地排,将探针升降架的地线连接至接地排,然后使用导线将接地排连接至静电放电发生器背面保护接地端子
高压线连接
信号线连接
测试台地线连接,使用导线连接至静电放电发生器背面保护接地端子
测试台高压线连接
半导体静电放电发生器-图3
图3-3

3.3 更换放电塔

本静电放电发生器可连接用于做不同测试的放电塔,若您需要更换放电塔进行测试时,请严格按照如下操作步骤进行操作。

操作步骤 说明
确认静电放电发生器处于停止测试状态,关机
将原放电塔与静电放电发生器之间的所有连接线缆全部拆下来
将新放电塔与静电放电发生器之间的所有连接线缆全部连接好
开机,运行新的测试

4、触摸屏程序介绍

4.1 初始界面

见图4-1。

编号 说明
当CDM放电塔连接至主机时,显示CDM可用,点击即可进入CDM测试界面
中英文切换
产品信息页
半导体静电放电发生器-图4
图4-1

4.2 CDM测试界面

见图4-2。

编号 说明
可设置测试电压及极性
若进行单次测试,选择单次测试
若进行连续测试,选择连续测试
可设置测试次数,仅限连续测试
启动/停止测试
返回初始界面
半导体静电放电发生器-图5
图4-2

5、CDM静电放电试验

5.1 测试台位置预调试

5.1.1被测器件放置要求

操作人员佩戴防静电手环,穿戴防静电服,避免人体静电损伤被测器件;将被测半导体器件管脚朝上放置于隔离板中心位置,

5.1.2测试台调试

请先将高压连接线连接断开,放置于绝缘台面。并参考4.2启动测试。探针按标准速度下移,根据探针下移位置,调试测试台高度及水平位置,使探针下移后刚好接触目标管脚,观察接触状态,避免过度挤压损伤器件管脚。调试好后,停止测试,并将高压连接线接回。

5.2 标准测试参数推荐

依据 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 标准,常规测试推荐参数如下:放电电压:根据器件等级选择,Class 0(<250V)、Class 1(250V~<500V)、Class 2(500V~<1000V)、Class 3(≥1000V);放电极性:正、负极各测试一次;放电次数:每个管脚至少放电 3 次。

5.3 启动/停止测试

参考4.2及5.2设置测试参数并启动测试。测试过程中若有异常,可按停测试,重新调整后重试。测试结束后,确保内部残余完全泄放,将被测器件取下。若当日不再继续使用设备,可将设备关机。

5.4 测试结果判断

所有标准均遵循统一的测试判定逻辑:

编号 说明
基准测试 CDM放电前,在标准规定条件下完成所有被测参数测量,记录基准值
放电测试 按标准要求完成指定电压、极性、次数的 CDM放电
复测对比 放电后在与基准完全相同的条件下复测所有参数
失效判定 任一参数超出规范、功能异常或物理损坏,即判定该被测器件失效
等级确认 以全部样品无失效的最高电压,作为该被测器件最终的 CDM 耐受等级

6、设备日常维护与保养

6.1 日常清洁保养

每次测试结束后,用干净软布擦拭主机外壳、触摸屏、放电塔表面灰尘,保持设备整洁;触摸屏清洁使用专用屏幕擦拭布,禁止使用丙酮等有机溶剂,禁止直接喷水清洁;每周清理测试台、感应板、隔离板表面灰尘与异物,确保绝缘性能良好;探针针尖如有污渍,用无尘棉签蘸取少量无水乙醇轻轻擦拭,晾干后再使用。

探针可直接拔下清洁或更换,见图6-1。

半导体静电放电发生器-图6
图6-1

6.2 定期检查项目

6.2.1电气连接检查

检查周期:每月 1 次;检查内容:电源线、高压线、接地线、通讯线接头是否松动、氧化、破损;处理方法:接头松动及时紧固,氧化层用细砂纸轻轻打磨,线缆破损立即更换。

6.2.2机械结构检查

检查周期:每月 1 次;检查内容:测试台调节旋钮转动是否顺畅、探头支架限位块是否牢固、探针伸缩是否正常;处理方法:调节机构可涂抹少量硅脂润滑,探针变形或磨损需更换。

6.3 长期存放要求

设备长期存放前,清洁整机表面,拔掉所有外接线缆;用防尘罩覆盖设备,存放于干燥、通风、无腐蚀性气体的环境;存放环境温度 0℃~40℃,相对湿度≤70%,避免阳光直射;每 3 个月通电待机30 分钟,驱除潮气,保护高压模块。

6.4 校准周期要求

为确保设备测量精度与使用可靠性,建议定期送至具备相应资质的第三方计量机构进行校准。推荐校准周期为12个月。具体校准周期可由用户根据使用频次、环境条件及质量体系要求自行确定。

7、常见故障排查与处理

7.1 电源类故障

故障现象 可能原因 处理方法
开机无显示、电源指示灯不亮 电源线未插紧、保险丝熔断 检查电源线连接;断电后更换同规格保险丝
触摸屏触控失灵 屏幕表面有污渍、系统程序异常 清洁屏幕表面;重启设备

7.2 高压类故障

故障现象 可能原因 处理方法
点击启动后高压无法加载 高压线缆未接好、接地不良、测试台表面有污渍 断电后重新插拔高压线缆并旋紧;检查并加固地线;清洁测试台表面

7.3 操作类故障

故障现象 可能原因 处理方法
放电次数不计数 探针未接触到器件 重新校准位置,确保接触良好
通讯报错、放电塔无动作 通讯线松动 断电后紧固信号线连接

7.4 波形异常故障

故障现象 可能原因 处理方法
波形峰值偏小 探针接触不良、电压设置偏低 清洁探针针尖,调整接触压力;核实并调高设定电压
波形上升沿不达标 探针磨损、接地回路阻抗过大 更换测试探针;检查接地线,减小接地电阻
波形杂波多 周边电磁干扰 移除干扰源,使用屏蔽线缆